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ETS406D靜電衰減測(cè)試儀采用直流充電法測(cè)試材料的靜電衰減特征，以評(píng)估其靜電特性。
1.用于實(shí)驗(yàn)室分析材料自身的靜電特性、評(píng)估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護(hù)材料；
2.用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備，依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來(lái)進(jìn)行靜電特性檢測(cè)和監(jiān)測(cè)。
美國(guó)無(wú)紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)，美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)，美標(biāo)MIL-B-81705C，美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D，中國(guó)GB 19082，中標(biāo)GJB2625
1.充電電壓：0～5.5kV；
2.誤差期設(shè)置：50%、10%、1%(0)；
3.電壓表量程：0-5kV；
4.計(jì)時(shí)器量程：1-99.99s；
5.計(jì)時(shí)分辨率：0.01s；
6.測(cè)試模式：手動(dòng)、自動(dòng)(只能測(cè)試從5kV開(kāi)始的衰減)；
7.自動(dòng)測(cè)試次數(shù)：1-9次；
8.測(cè)試時(shí)間間隔：1-25秒；
9.輸入電源：86-264VAC，50/60Hz。
1.406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測(cè)試，金屬夾具可以測(cè)試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料；2.選配IC管型夾具可以無(wú)損測(cè)試IC芯片包裝管；
3.選配806B無(wú)損測(cè)試電極可以直接放置在試樣上，還可以測(cè)試粉體和液體靜電衰減時(shí)間；
4.配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，法拉第籠通過(guò)配套連接線連接406D主機(jī)；
5.法拉第籠具有互鎖裝置，打開(kāi)法拉第籠時(shí)，高壓電源輸出被切斷；
6.STM-2驗(yàn)證模塊提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容，通過(guò)測(cè)試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常；
7.位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測(cè)頭可以卸下，放置在806B無(wú)損電極上后，可以直接測(cè)試粉體、液體和固體試樣；
8.顯示：指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計(jì)時(shí)器(中)，彩色LED燈指示各個(gè)操作進(jìn)程。
1.406D測(cè)試主機(jī)；
2.法拉第測(cè)試籠；
3.磁性固定電極；
4.條形夾具；
5.STM-2驗(yàn)證模塊；
6.選配：806B無(wú)損測(cè)試電極。
021-64208466
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